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News ENTREPRISES & INDUSTRIEOPTON LASER INTERNATIONAL : Opton Laser International dévoile une offre complète dédiée à l’industrie des semi-conducteurs
Opton Laser International structure son offre autour de quatre piliers clés : Fabrication, Inspection, Caractérisation et Intégration. Objectif : adresser l’ensemble de la chaîne de valeur avec des solutions photoniques à haute performance, du laboratoire à la production industrielle.
Fabrication : précision sub-micronique et maîtrise des procédés
La fabrication de semi-conducteurs impose des contraintes extrêmes en termes de stabilité, répétabilité et contrôle des interactions lumière-matière. Opton Laser s’appuie notamment sur les technologies de Xiton Photonics, avec des sources couvrant de l’UV profond à l’infrarouge :
· IMPRESS - 213 nm (UV Deep) : micro-structuration fine, inscription de fibre à réseaux de Bragg et photonique intégré
· IXION SLM - 193 nm : lithographie interférométrique et stabilisation de lasers excimer
· IXDICE / IXDICE ULTRA - 1342 nm (IR) : stealth dicing sans ablation, réduction des contraintes mécaniques et amélioration du rendement
· Skylark Lasers - 320 & 349 nm : Gravure de réseaux optiques (VBG, CVBG, DOE…)
Résultat : des procédés plus propres, plus précis et compatibles avec des cadences industrielles 24/7.
Inspection : détecter l’invisible pour maximiser le rendement
À l’ère du nanométrique, la tolérance aux défauts est quasi nulle. L’inspection optique devient un levier critique de performance industrielle. Opton Laser propose une sélection de sources UV haute cohérence :
· CryLaS - 266 nm (DPSS CW monomode) : stabilité spectrale absolue et haute sensibilité de détection
· Skylark Lasers - 320 & 349 nm : faisceau TEM₀₀ pur, faible bruit et excellente uniformité
· CNI Laser - 193 à 400 nm : large gamme UV, stabilité et robustesse industrielle
Applications : Inspection des wafers I Détection de défauts de surface et de volume | Analyse de particules et rugosité | Scatterométrie OCD, photoluminescence et Raman | Analyse qualité des matériaux I Inspection semiconducteurs à large bande interdite.
En complément, les solutions de micromanipulation motorisée permettent une intervention directe à l’échelle microscopique : préparation d’échantillons, élimination de contaminants et analyses avancées (SEM, TEM, FIB).
Caractérisation : comprendre les propriétés pour mieux innover
La performance des dispositifs semi-conducteurs repose sur la maîtrise fine de leurs propriétés opto-électroniques. Opton Laser intègre des solutions complètes de spectroscopie et d’imagerie avancée :
· TRPL - PicoQuant : dynamique des porteurs, analyse temporelle haute résolution
· Imagerie hyperspectrale - Photon etc. : cartographie des défauts et homogénéité matériaux
· Raman confocal - Nanobase : contraintes, composition et interactions couche à couche
· Sources accordables DUV-SWIR - Mountain Photonics : illumination large surface et calibration
Applications : Wafers à puits quantiques | Semi-conducteurs à large bande interdite (SiC, GaN, AlN) | Cellules solaires avancées (perovskites, CIGS, GaAs) | Matériaux 2D (MoS₂) et nanostructures
Enjeu : transformer la donnée optique en levier d’optimisation des performances matériaux.
Intégration : du composant à la machine industrielle
Au-delà des sources et instruments, Opton Laser propose les briques essentielles à l’intégration dans des systèmes industriels :
· Lentilles F-Theta - CPG Optics : balayage laser précis
· Motorisations direct drive - Standa : rapidité, répétabilité, grande course
· Nano-positionnement piézoélectrique - piezosystem jena : précision nanométrique et temps de réponse ultra-court
Ces solutions permettent d’adresser des fonctions critiques : alignement et positionnement, inspection automatisée, micro-assemblage
Une approche globale au service de la performance industrielle
Avec cette offre structurée, Opton Laser International se positionne comme un partenaire technologique clé pour les acteurs des semi-conducteurs, capable de couvrir l’ensemble des besoins - de la R&D à la production.
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